synos用于光照射和光接收測量的光學系統M-Scope Type I

用(yong)(yong)(yong)(yong)于高(gao)(gao)性能(neng)(neng)光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)（用(yong)(yong)(yong)(yong)于光(guang)(guang)(guang)(guang)照射(she)和光(guang)(guang)(guang)(guang)接收(shou)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)） M-Scope Type I 是(shi)一種(zhong)(zhong)(zhong)高(gao)(gao)性能(neng)(neng)光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)，設計用(yong)(yong)(yong)(yong)于多用(yong)(yong)(yong)(yong)途光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)應(ying)用(yong)(yong)(yong)(yong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，例(li)如光(guang)(guang)(guang)(guang)照射(she)、光(guang)(guang)(guang)(guang)接收(shou)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)和光(guang)(guang)(guang)(guang)束輪廓(kuo)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)。 配備用(yong)(yong)(yong)(yong)于光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)纖連(lian)接端(duan)口和用(yong)(yong)(yong)(yong)于圖像(xiang)處(chu)理分析的(de)(de)圖像(xiang)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)器連(lian)接端(duan)口，可以(yi)(yi)(yi)使用(yong)(yong)(yong)(yong)同一光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)實現(xian)多個(ge)光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)。 此(ci)外，可以(yi)(yi)(yi)根據(ju)目(mu)(mu)的(de)(de)添加(jia)各種(zhong)(zhong)(zhong)光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)組(zu)件，并且可以(yi)(yi)(yi)根據(ju)使用(yong)(yong)(yong)(yong)目(mu)(mu)的(de)(de)輕松構(gou)建光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)單元，例(li)如測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)目(mu)(mu)的(de)(de)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)項目(mu)(mu)和測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)觸(chu)覺。 光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)系(xi)(xi)統(tong)可以(yi)(yi)(yi)根據(ju)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)目(mu)(mu)標(biao)和測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)波長選擇和安(an)裝最(zui)合適的(de)(de)透鏡(jing)或反射(she)鏡(jing)。 這(zhe)使得在最(zui)佳光(guang)(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)條件下進行各種(zhong)(zhong)(zhong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)成(cheng)為(wei)可能(neng)(neng)。

它(ta)可以應用(yong)(yong)于廣泛的(de)領(ling)域和應用(yong)(yong)，從光(guang)電探測器(qi)和傳感器(qi)的(de)入射光(guang)測量，發光(guang)元(yuan)件的(de)光(guang)接收測量，光(guang)束輪廓測量等，到(dao)生(sheng)物(wu)細胞的(de)微光(guang)束照射。

用(yong)于(yu)高(gao)性(xing)能(neng)光(guang)學測量的光(guang)學系(xi)統(tong)包(bao)括標(biao)準 M 型(xing) I 型(xing)和(he)偏(pian)振(zhen)依賴性(xing)對策 M 型(xing) I/PF 型(xing)。

產品特點

• 配備光(guang)纖(xian)(xian)連(lian)接端口，用(yong)(yong)于光(guang)學參數測(ce)(ce)量(liang)。 它可以以多種方(fang)式使(shi)用(yong)(yong)，例如使(shi)用(yong)(yong)光(guang)纖(xian)(xian)輸出型光(guang)源將測(ce)(ce)量(liang)光(guang)引入樣品，將測(ce)(ce)量(liang)光(guang)中繼到(dao)光(guang)纖(xian)(xian)以及使(shi)用(yong)(yong)光(guang)纖(xian)(xian)接收和測(ce)(ce)量(liang)光(guang)。

• 測量光照射測量

• 待測(ce)(ce)樣(yang)品的表面由來自測(ce)(ce)量光(guang)源(yuan)的精確測(ce)(ce)量光(guang)照射。

• 測量光敏測量

• 從樣品中測量(liang)的光被中繼到光纖，以測量(liang)功率、波(bo)長(chang)和響應(ying)等光學(xue)特性。

• 配備圖像檢測(ce)(ce)(ce)器連接(jie)端口。 光照射測(ce)(ce)(ce)量(liang)期(qi)間測(ce)(ce)(ce)量(liang)的光照射位(wei)置(zhi)和光接(jie)收測(ce)(ce)(ce)量(liang)期(qi)間測(ce)(ce)(ce)量(liang)的光測(ce)(ce)(ce)量(liang)位(wei)置(zhi)可以用同軸(zhou)觀(guan)測(ce)(ce)(ce)相機(ji)直接(jie)觀(guan)察。 此外，還可以支持在光接(jie)收測(ce)(ce)(ce)量(liang)期(qi)間進行光束輪廓測(ce)(ce)(ce)量(liang)。

• 它(ta)配備了同(tong)軸觀(guan)測(ce)(ce)(ce)相機端口(kou)。 當測(ce)(ce)(ce)量光(guang)(guang)照(zhao)射(she)到(dao)(dao)樣(yang)(yang)品上時，通過同(tong)軸觀(guan)察照(zhao)射(she)位置，可以將測(ce)(ce)(ce)量光(guang)(guang)可靠地(di)照(zhao)射(she)到(dao)(dao)樣(yang)(yang)品針點(dian)。 此外，當接收(shou)來自(zi)樣(yang)(yang)品的光(guang)(guang)時，通過同(tong)軸觀(guan)察光(guang)(guang)接收(shou)測(ce)(ce)(ce)量位置，可以將來自(zi)測(ce)(ce)(ce)量目標的光(guang)(guang)可靠地(di)中繼到(dao)(dao)光(guang)(guang)纖。 此外，由于可以直接觀(guan)察到(dao)(dao)發光(guang)(guang)狀態(tai)，因此還可用于光(guang)(guang)束(shu)形狀測(ce)(ce)(ce)量應(ying)用，例如(ru)光(guang)(guang)束(shu)輪廓測(ce)(ce)(ce)量。

產品主要用途

• 測量光照射測量

• 測量光電二極管的光靈敏(min)度和光響應特性(xing)

• 測量各種光學傳感器的光接收靈(ling)敏度

• 測量各種(zhong)光波(bo)導上的(de)光入射引起(qi)的(de)插入損耗、傳播特性(xing)(xing)和連續性(xing)(xing)

• 光照射半導體器件的失效分析

• 生(sheng)物(wu)醫學(xue)應用(yong)，例如生(sheng)物(wu)細(xi)胞的(de)光照射(she)

• 此外，通過用測(ce)量(liang)(liang)光(guang)照射各種顯(xian)微樣品來測(ce)量(liang)(liang)和分析光(guang)學(xue)特性(xing)

• 測量光敏測量

• 測量半導體激光(guang)器和VCSEL等激光(guang)設(she)備的發射特性

• 測量從各種光波導(dao)接收到的(de)光引(yin)起的(de)插入損耗(hao)、傳播(bo)特性(xing)(xing)和連(lian)續性(xing)(xing)

• 通過測量各種發光(guang)設備的(de)光(guang)接(jie)收(shou)來測量和分析光(guang)學特性

• 此外，通(tong)過測量(liang)各種發光樣品(pin)的光接收(shou)來測量(liang)和分析光學(xue)特性

• 在(zai)晶圓級測(ce)量和分析(xi)各(ge)種光半導(dao)體(ti)器件的光學特性(xing)

• 硅光子器件的研究與開發(fa)

• 光學模塊(kuai)(kuai)和透(tou)鏡模塊(kuai)(kuai)的裝配調整和質量評(ping)估(gu)

• 此外，光(guang)照射(she)/光(guang)接收測量(liang)，圖(tu)像(xiang)測量(liang)，檢(jian)查，一般(ban)研究和開發

synos用于光照射和光接收測量的光學系統M-Scope Type I

產品主要規格