客戶咨詢熱線：
18922517093
訪問次數：1092
更新日期：2023-03-17
簡要描述：
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設備D-view超聲(sheng)波探傷儀的(de)應用(yong)(yong)范圍是檢測半導體內(nei)部的(de)裂紋，區分粘(zhan)附和剝離，檢測新材料（例(li)如(ru)精細陶瓷和復合材料）的(de)空隙(xi)和分層(ceng)，或(huo)對飛機上使用(yong)(yong)的(de)加工(gong)零件進行z終(zhong)檢查(cha)(cha)。它(ta)已(yi)經(jing)非常廣(guang)泛(fan)，并且已(yi)經(jing)成功地檢查(cha)(cha)了異種(zhong)金屬的(de)接合面(mian)。
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設備D-view
有兩種在(zai)不破壞材料內部的情況下記錄圖像的方法：X射線(xian)探傷和超聲(sheng)探傷。我們正在(zai)開發結合(he)了超聲(sheng)波(bo)探傷儀(yi)(yi)和圖像處(chu)理設(she)備(bei)的超聲(sheng)波(bo)探傷儀(yi)(yi)。
超(chao)聲波探(tan)傷儀的(de)(de)(de)應用范圍是(shi)檢測半導(dao)體內部的(de)(de)(de)裂紋，區分(fen)粘附和(he)(he)剝離，檢測新材料(liao)（例如精細陶瓷和(he)(he)復合材料(liao)）的(de)(de)(de)空隙和(he)(he)分(fen)層(ceng)，或對飛機上使用的(de)(de)(de)加工零件進(jin)行(xing)z終(zhong)檢查。它已(yi)經非常廣泛，并且已(yi)經成功地檢查了異種(zhong)金(jin)屬的(de)(de)(de)接(jie)合面(mian)。
D-view（臺式超(chao)聲(sheng)查看系(xi)統(tong)）是一種節(jie)省空(kong)間的(de)臺式超(chao)聲(sheng)探傷(shang)可(ke)視(shi)化(hua)設備，可(ke)以輕(qing)松地(di)在實(shi)驗室(shi)或(huo)辦公室(shi)中安(an)裝。我(wo)們完善的(de)SDS系(xi)列高(gao)性能(neng)超(chao)聲(sheng)波掃描儀的(de)可(ke)用(yong)性和廣泛的(de)數據處(chu)理軟(ruan)件被繼承了下來，因此可(ke)以應(ying)用(yong)于(yu)各(ge)個領域的(de)材料檢查。當然，它配備了我(wo)們新開發的(de)高(gao)頻超(chao)聲(sheng)波探傷(shang)儀“ HIS3”。
D-view具有2軸掃(sao)描(miao)儀(yi)，可(ke)掃(sao)描(miao)水箱的工(gong)件以進行浸入式超聲波探傷，而(er)作(zuo)為探傷儀(yi)主體的高(gao)頻(pin)超聲波探傷儀(yi)HIS3可(ke)檢測脈沖反射方(fang)法的故(gu)障，并用于圖像(xiang)處(chu)理和(he)掃(sao)描(miao)儀(yi)。它由一臺(tai)可(ke)控制(zhi)的工(gong)業計(ji)算機組成。
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設備D-view
| 超聲波探傷儀 HIS3 HF | 脈沖輸出 | -200V（空載） |
| 脈沖星下降時間 | 1.0ns以下 | |
| 接收帶 | 1.0-300MHz（-3dB） | |
| 增益調整范圍 | 0-71dB / 1dB | |
| 光路測量 | 0-40.94微秒 | |
| CPU控制 | 并行I / O，每個RS232C | |
| 掃描儀（2300） （2軸掃描儀標準規格） | 掃描范圍（mm） | X：300mm Y：300mm Z：100mm（Z為手動） 探頭角度校正范圍θ1：±25°θ2：±20° |
| 掃描速度 | z大300mm /秒 | |
| 掃描間距 | 0.01-9.99mm（XY） | |
| 掃描方式 | 平面掃描（XY模式） | |
| 其他 | 掃描區域示教，點動遙控功能 | |
| 數據處理 | 數據收集點 | z多200,000,000點（一次掃描記錄） |
| 數據存儲 | 硬盤，DVD-ROM，USB端口 | |
| 保存設置條件 | 同上 | |
| 圖像處理軟件 | 漸變顯示： 回聲等級： 實時處理： 圖像處理：
| |
| 其他選擇 | 彩色打印機，局域網連接 |
