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更新日期：2023-03-17
簡要描述：
日本kjtd超聲波探傷可視化設備SDSⅢ系列有(you)兩種在不(bu)破壞(huai)材(cai)料(liao)內部的情(qing)況下記錄圖像的方法(fa)：X射線探(tan)傷(shang)和(he)超聲(sheng)探(tan)傷(shang)。我們正(zheng)在開發結合了(le)超聲(sheng)波探(tan)傷(shang)儀(yi)和(he)圖像處理(li)設備(bei)的超聲(sheng)波探(tan)傷(shang)儀(yi)。
日本kjtd超聲波探傷可視化設備SDSⅢ系列
有兩種在不破壞(huai)材料內部的(de)(de)情況下(xia)記錄圖像(xiang)的(de)(de)方法：X射線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)和(he)超聲(sheng)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。我們正在開發結合了超聲(sheng)波探(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀和(he)圖像(xiang)處(chu)理(li)設備(bei)的(de)(de)超聲(sheng)波探(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀。
超聲波探傷(shang)儀的(de)(de)(de)應用(yong)范圍是檢測(ce)半導體內部的(de)(de)(de)裂紋，區分粘附和(he)(he)剝離，檢測(ce)新材(cai)料（例如精(jing)細陶瓷和(he)(he)復(fu)合(he)材(cai)料）的(de)(de)(de)空隙和(he)(he)分層，或對飛機(ji)上使用(yong)的(de)(de)(de)加工零件進行z終檢查。它已經(jing)非常廣泛，并且已經(jing)成功(gong)地(di)檢查了(le)異(yi)種金屬的(de)(de)(de)接合(he)面。
SDSⅢ系列是一種超聲(sheng)(sheng)波(bo)探傷(shang)可視(shi)化(hua)設備，它融(rong)合(he)了新的超聲(sheng)(sheng)波(bo)探傷(shang)技術和圖像處理技術。配(pei)備了z初(chu)由KJTD開發的新高速寬帶超聲(sheng)(sheng)探傷(shang)儀HIS3。
Windows進(jin)行的圖像分析使其更(geng)易于使用。
在探傷掃(sao)(sao)描(miao)期間，實時顯示C范圍或B，C范圍，并且在掃(sao)(sao)描(miao)完成后，可以(yi)(yi)通過原始圖像處(chu)理來執行分(fen)析和(he)評估。除了回波高度和(he)光路顯示之外，我(wo)們的(de)原始MURAI處(chu)理方法還可以(yi)(yi)在監(jian)視器上以(yi)(yi)二進制(zhi)，2色，16色或256色各(ge)種灰度顯示以(yi)(yi)及目(mu)標缺陷(xian)的(de)形式顯示在監(jian)視器上。可以(yi)(yi)更清(qing)晰地獲得圖像。
日本kjtd超聲波探傷可視化設備SDSⅢ系列
| 超聲波探傷儀 HIS3 HF | 脈沖輸出 | -200V（空載） |
| 脈沖星下降時間 | 1.0ns以下 | |
| 接收帶 | 1-300 / 5-300MHz | |
| 增益調整范圍 | 0-71dB / 1dB | |
| 光路測量 | 0-40.96微秒 | |
| CPU控制 | 并行I / O，每個RS232C | |
| 掃描儀 （6軸掃描儀標準規格） | 掃描范圍（mm） | X：500mm Y：400mm Z：300mm R /轉盤φ300θ1 / 110°θ2/±45° |
| 掃描速度 | z大300mm /秒 | |
| 掃描間距 | 0.01至9.99毫米/秒（XYZ） 0.02至9.98°（R：轉盤） | |
| 掃描方式 | 平面，側面，坡度，R面（卡馬霍形狀），圓柱，球面，連續 | |
| 其他 | 掃描區域示教，點動遙控功能 | |
| 數據處理 | 數據收集點 | z多200,000,000點（一次掃描記錄） |
| 數據存儲 | ①硬盤②DVD-RW③USB端口 | |
| 保存設置條件 | HD（故障檢測器和掃描儀設置）等 | |
| 圖像處理軟件 | 漸變顯示： 兩(liang)種顏(yan)色(se)之間(jian)256級(ji)（從(cong)1600萬種顏(yan)色(se)中選擇可選，包括黑色(se)和白色(se)） 16個(ge)(ge)色階(jie)(jie)，256個(ge)(ge)RYB階(jie)(jie) 回聲等級： 聲壓級(ji)(ji)，深度(du)級(ji)(ji)，MURAI級(ji)(ji) 實時處理： 平面(mian)圖(tu)像，橫截面(mian)圖(tu)像，tou視圖(tu)圖(tu)像，立(li)體圖(tu)像，線框(kuang)精(jing)密缺(que)(que)陷檢測(ce)（放大(da)缺(que)(que)陷檢測(ce)），圖(tu)像內測(ce)量，放大(da)，光(guang)標(biao)位置，面(mian)積(ji)比，設置顯示，回波高度顯示，回波高度tou視，點數據讀取等 局域網兼容 |
