日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410 

總覽

高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方(fang)便使(shi)用(yong)的類(lei)型，可方(fang)便地進(jin)行(xing)現(xian)場(chang)工作，并且(qie)只需(xu)將與顯(xian)示單元分開(kai)的測量單元應用(yong)于被攝體即可進(jin)行(xing)測量。使(shi)用(yong)近紅(hong)外(wai)線(xian)作為(wei)光源，并測量了1000的光澤度（鏡面反(fan)射率100）。

無需(xu)預熱。對于需(xu)要高表面光(guang)澤(ze)度的產品（例如用于汽車前燈的照明(ming)反光(guang)器(qi)，用于復印機的反光(guang)器(qi)和硅片(pian)）的質(zhi)量控制而言，它是(shi)理想的選(xuan)擇。

IG-410 可用(yong)于測量(liang)超高光澤表面(mian)，如拋光金屬。該儀表的(de)(de)測量(liang)范圍(wei)是(shi)傳(chuan)統(tong)型號的(de)(de)十(shi)倍，甚至連鏡面(mian)也可以測量(liang)。

重(zhong)量僅為350克（1.3磅），電池驅動(dong)，儀器更(geng)為便攜。通過簡單的(de)一(yi)鍵(jian)式操作(zuo)可進(jin)行快速可靠的(de)測(ce)量。LED光源的(de)使用壽命＜100000小時，因此(ci)無需(xu)更(geng)換零(ling)件(jian)。

IG-410 有兩(liang)個可供用戶(hu)選擇的(de)測(ce)量范(fan)圍(wei)，具體(ti)取(qu)決于待測(ce)量的(de)樣品。低光澤樣品可使(shi)用0 ~100范(fan)圍(wei)測(ce)量，高光澤樣品可使(shi)用0 ~ 1000范(fan)圍(wei)測(ce)量。提供兩(liang)個校準(zhun)板，方便用戶(hu)使(shi)用簡單的(de)一鍵式校準(zhun)程序，以(yi)確(que)保結果的(de)再現(xian)性。

特征

• 甚至在金屬等高光澤區域
  也可以量化“模糊度" IG-410可以測量金屬等高光澤區域，是光澤(ze)度(du)檢查(cha)儀(yi)IG系列的(de)新(xin)產品。測量范圍是0到(dao)100，是傳統型號的(de)10倍。也可(ke)以測量鏡面樣品。

• 緊湊輕巧的設計，易于現場測量
  重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產現場以方便測量。
  由于(yu)將LED用作光源(yuan)，因此(ci)無需擔心(xin)光源(yuan)的(de)壽(shou)命。

• 可以通過
  在2個范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
  IG-410不僅可以測(ce)量(liang)(liang)高光澤度金屬(shu)，還可以測(ce)量(liang)(liang)低(di)光澤度區域(yu)，例如(ru)涂在金屬(shu)板上的樣品。

應用實例

• 用(yong)于檢查金屬產品表(biao)面狀況的光(guang)潔度

• 用于(yu)檢查軋制鋁板(ban)和不(bu)銹鋼板(ban)的外(wai)觀

• 用于(yu)檢查電鍍產品的外(wai)觀

• 用于檢查硅(gui)片的表面(mian)光潔(jie)度(du)

*由(you)于光澤度是通過(guo)光的(de)反射來測量的(de)，因此測量點必須(xu)平坦。

日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410 

規范