日本horiba硅晶圓表面光澤度計IG-410

總覽

高光(guang)澤(ze)度(du)光(guang)澤(ze)度(du)檢查儀IG-410是一(yi)種方便使用(yong)(yong)的(de)類型，可(ke)方便地進行(xing)現場工(gong)作，并且只需將與顯示單(dan)元(yuan)分開(kai)的(de)測(ce)量(liang)單(dan)元(yuan)應用(yong)(yong)于被攝體即可(ke)進行(xing)測(ce)量(liang)。使用(yong)(yong)近(jin)紅外線作為光(guang)源，并測(ce)量(liang)了1000的(de)光(guang)澤(ze)度(du)（鏡面反(fan)射(she)率100）。

無需預熱(re)。對于需要高(gao)表面光(guang)澤度的(de)產品（例如用于汽車前(qian)燈的(de)照明反光(guang)器，用于復印機的(de)反光(guang)器和(he)硅片）的(de)質量控制而言(yan)，它是理想的(de)選擇。

IG-410 可用于測量超高光澤表(biao)面，如拋光金(jin)屬。該儀(yi)表(biao)的(de)測量范圍是傳統型號的(de)十(shi)倍，甚(shen)至連鏡面也可以測量。

重量(liang)僅為(wei)350克（1.3磅），電池驅動，儀(yi)器(qi)更為(wei)便攜。通過簡單(dan)的一鍵式操(cao)作可(ke)進行快速可(ke)靠(kao)的測量(liang)。LED光源的使用(yong)壽(shou)命(ming)＜100000小時(shi)，因此無需更換零(ling)件。

IG-410 有兩(liang)個可(ke)供用(yong)戶選(xuan)擇的(de)測(ce)量(liang)范(fan)圍，具體取決于待測(ce)量(liang)的(de)樣(yang)品(pin)。低光澤樣(yang)品(pin)可(ke)使用(yong)0 ~100范(fan)圍測(ce)量(liang)，高光澤樣(yang)品(pin)可(ke)使用(yong)0 ~ 1000范(fan)圍測(ce)量(liang)。提供兩(liang)個校準(zhun)板，方便(bian)用(yong)戶使用(yong)簡單的(de)一鍵式校準(zhun)程序，以確保結果的(de)再現(xian)性。

特征

• 甚至在金屬等高光澤區域
  也可以量化“模糊度" IG-410可以測量金屬等高光澤區域，是光澤(ze)度檢查(cha)儀IG系列(lie)的新產(chan)品。測量范圍是0到100，是傳統型(xing)號的10倍。也可以測量鏡(jing)面樣品。

• 緊湊輕巧的設計，易于現場測量
  重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產現場以方便測量。
  由于將LED用作光源，因此無(wu)需擔心光源的壽命。

• 可以通過
  在2個范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
  IG-410不(bu)僅(jin)可(ke)以測量高光(guang)澤(ze)度金屬(shu)，還可(ke)以測量低光(guang)澤(ze)度區域，例(li)如涂在(zai)金屬(shu)板(ban)上(shang)的(de)樣品(pin)。

應用實例

• 用(yong)于(yu)檢(jian)查金(jin)屬產品表(biao)面狀況(kuang)的(de)光(guang)潔(jie)度

• 用于檢查軋制鋁板(ban)和不銹(xiu)鋼板(ban)的(de)外觀

• 用于檢查電(dian)鍍產品的外觀

• 用于檢查硅片的表面(mian)光潔(jie)度

*由于光(guang)澤度(du)是通過(guo)光(guang)的(de)反射來測量的(de)，因此測量點必須(xu)平坦。

日本horiba硅晶圓表面光澤度計IG-410

規范