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更(geng)新(xin)日期:2023-03-22
簡要描述:
日本twin nines納米表面粗糙度測量儀Nano Seven①短時間測量 ②大范圍測量 ③操作簡單 ④高(gao)精度測量
產地 | 進口 |
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日本twin nines納米表面粗糙度測量儀Nano Seven
Nanoseven 可以(yi)通(tong)過使用激光的非接(jie)觸式方法(fa),在短時間內,在大范圍內以(yi)亞納米級精(jing)度(du)測量待測物體的表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)和臺(tai)階(jie)高度(du)。
引入 nanoseven 的 7 個好處
特點 1 縮短測量時間
只需(xu) 25 秒即(ji)可測量 100 µm x 100 µm 區域的(de)表面粗(cu)糙度。*以 3µm 間(jian)距測量時。
AFM 通(tong)常(chang)需要大約 15 分鐘。
特點 2 寬范圍測量
Nanoseven 的測(ce)量范(fan)圍(wei)(wei)取(qu)決于樣品(pin)臺的可移(yi)(yi)動區域。由于它可以在(zai) X 軸(zhou)(水(shui)平軸(zhou))上最多移(yi)(yi)動 45 毫米(mi),在(zai) Y 軸(zhou)(深度軸(zhou))上最多移(yi)(yi)動 45 毫米(mi),因此(ci)理論上可以在(zai)此(ci)范(fan)圍(wei)(wei)內一次測(ce)量。此(ci)外,可以對(dui)樣品(pin)臺進(jin)行大規模改造,從而可以測(ce)量更(geng)廣(guang)泛(fan)的范(fan)圍(wei)(wei)。
特殊功能 3 無需防震臺
Nanoseven采用的“光學外(wai)差干(gan)涉(she)測(ce)量系統"不使(shi)用干(gan)涉(she)條紋進行測(ce)量,不像一般的白光干(gan)涉(she)測(ce)量,因(yin)此它(ta)可(ke)以(yi)抵(di)抗外(wai)部干(gan)擾的噪(zao)聲,并且(qie)不需要(yao)防振臺。
特點 4 輕松測量
原則上,不需要對測量對象進行特殊預處理。此(ci)外,不使用(yong)真(zhen)空(kong)設(she)備(bei)。它(ta)具(ju)有易于操作(zuo)(zuo)的設(she)計,無需專門的操作(zuo)(zuo)員即可操作(zuo)(zuo)。
特點 5 高分辨率
Nanoseven 使用光學外(wai)差(cha)干涉法(fa),這是(shi)一種基于(yu)光波長(chang)相(xiang)位差(cha)的測量(liang)(liang)方法(fa),因(yin)此可(ke)以以 0.1 nm(納米)或(huo)更小的高度分辨率進(jin)行測量(liang)(liang)。
特點 6 非接觸式測量
Nanoseven 是(shi)一(yi)種(zhong)使用(yong)紅色激光(guang)的非(fei)接(jie)(jie)觸(chu)式測量儀器,因(yin)(yin)此(ci)(ci)不會(hui)對被測物體產生不利(li)影響(xiang)。此(ci)(ci)外,由于它是(shi)非(fei)接(jie)(jie)觸(chu)式的,因(yin)(yin)此(ci)(ci)與接(jie)(jie)觸(chu)式測量儀器相比,可以進行高速測量。激光(guang)輸出(chu)只(zhi)有幾毫瓦(wa),是(shi)一(yi)種(zhong)節能(neng)安全的設計(ji)。
特點7 運行成本低
安裝(zhuang)時無需隔振臺或真(zhen)空設備等附帶設備,幾乎(hu)沒有耗材(cai),購(gou)買(mai)后可降低運行成(cheng)本(ben)。此外,由于不(bu)需要專(zhuan)門的操作員,也(ye)有助(zhu)于降低人工成(cheng)本(ben)。
日本twin nines納米表面粗糙度測量儀Nano Seven
規格
規格 表 | |
高度方向分辨率 | 0.1 納米(納米) |
標準高度測量范圍 | 0.5nm 至 300nm |
測量方法 | 非接觸式 |
最大行程 [*1] | X:45mm / Y:45mm |
光源 | 氦氖激光(632.8nm) |
物鏡 | 放大倍率 20X / NA 0.4 |
電源 | AC100V |
體重 | 約27公斤 |
配件 | 噪聲濾波器 |
外形尺寸 | 機身:W220×D550×H420mm 控制箱:W172×D350×H315mm |