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更新日期：2023-03-18
簡要描述：
日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列10μH線圈波形清晰顯示隨著電(dian)(dian)子器(qi)械的(de)(de)高度(du)化，被使用的(de)(de)線圈(quan)部品也變(bian)得越來越小型(xing)化高周波了(le)。DWX是(shi)一種(zhong) 適合各種(zhong)電(dian)(dian)感線圈(quan)測(ce)試的(de)(de)儀器(qi)。此儀器(qi)搭載了(le)高速(su)(su)開關的(de)(de)脈(mo)沖電(dian)(dian)源，采用高速(su)(su)·A/D取(qu)樣 電(dian)(dian)路(lu)，成功的(de)(de)解決(jue)了(le)目前較難的(de)(de)低電(dian)(dian)感線圈(quan)測(ce)試問題。
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日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列
低電感?線圈測試的決定版！
10μH線圈波形(xing)清晰顯(xian)示
隨著電(dian)子(zi)器械的高(gao)度化(hua)(hua)，被使用的線(xian)圈(quan)部品也變得越(yue)來越(yue)小型化(hua)(hua)高(gao)周波(bo)了(le)。DWX是一種 適合各種電(dian)感(gan)(gan)線(xian)圈(quan)測(ce)試的儀器。此儀器搭載了(le)高(gao)速開(kai)關的脈沖電(dian)源，采用高(gao)速·A/D取樣(yang) 電(dian)路，成(cheng)功(gong)的解(jie)決了(le)目前較(jiao)難的低電(dian)感(gan)(gan)線(xian)圈(quan)測(ce)試問題。
隨著電(dian)(dian)(dian)子(zi)器(qi)械的高度化，被(bei)使用的線(xian)圈部品也(ye)變(bian)得越來越小型化高周(zhou)波了。DWX是一種(zhong) 可(ke)以對應各(ge)種(zhong)電(dian)(dian)(dian)感線(xian)圈測試(shi)的儀器(qi)。此儀器(qi)搭載了高速開(kai)關(guan)的脈(mo)沖電(dian)(dian)(dian)源(yuan)，采(cai)用高速·A/D取樣 電(dian)(dian)(dian)路(lu)，成功(gong)的解決(jue)了目前(qian)較(jiao)難的低電(dian)(dian)(dian)感線(xian)圈測試(shi)問題。 。
脈沖波形入力回路中，因為采用了高性能阻抗分壓回路，所以能夠得到清晰準確的波形，而且提高了波形判斷能力以及放電檢出感應度。
（＊和(he)本社DW?DWS系列（不含F類型(xing)）比較，大(da)(da)大(da)(da)提高了檢出感度。）
高(gao)速A/D取樣，可以準確的(de)捕捉到(dao)低電感?線圈的(de)極(ji)短脈沖應答的(de)同(tong)時，而且(qie)8KPoint?取樣的(de)高(gao)精(jing)細數據(ju)判定，還可以確切判定微少芯波形。
通(tong)過使用Laplacian演算(suan)的(de)(de)波(bo)形(xing)(xing)解(jie)析，抽(chou)取(qu)由高(gao)壓脈沖產生的(de)(de)放(fang)電(dian)(dian)成分，并在(zai)每個圖形(xing)(xing)的(de)(de)子(zi)窗口上(shang)直觀，易懂顯示放(fang)電(dian)(dian)測試。
波形(xing)判定(ding)中有AREA判定(ding)（面(mian)積(ji)比較）?DIF-AREA判定(ding)（波形(xing)差面(mian)積(ji)比較）?FLUTTER量(liang)檢(jian)出（放(fang)電量(liang)檢(jian)出）?LAPLACIAN量(liang)量(liang)檢(jian)出（放(fang)電量(liang)檢(jian)出）的檢(jian)查方法等多種組合，適用(yong)于(yu)各種線圈的測試試驗(yan)。
匝間短路檢測儀可以對線圈做到有效的，非破壞性測試。
其原理(li)是將相同(tong)的(de)(de)(de)脈(mo)沖電流傳遞給標準繞組（主線圈(quan)(quan)）和(he)被測繞組（采樣線圈(quan)(quan)），比較瞬態現(xian)象(xiang)波(bo)形(xing)，并判斷質量(liang)。瞬態波(bo)形(xing)，即在(zai)線圈(quan)(quan)中產生的(de)(de)(de)減衰振動波(bo)形(xing)表示(shi)電感和(he)Q，并且(qie)可以(yi)同(tong)時(shi)確定(ding)線圈(quan)(quan)的(de)(de)(de)匝數(shu)差，層厚度，或確定(ding)材料的(de)(de)(de)差異等(deng)等(deng)。施加更高的(de)(de)(de)脈(mo)沖電壓還可以(yi)從電暈放(fang)電中檢(jian)測出(chu)絕緣缺陷。 換句(ju)話說，可以(yi)在(zai)非常短的(de)(de)(de)時(shi)間內(nei)可以(yi)對線圈(quan)(quan)做各(ge)種檢(jian)測
日本ecginc匝間短路檢測儀DWX系列
| DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
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| 施加電壓?電壓可調檔位 ?施加能量 ※ 抵抗負荷為１ＫΩ | 50V～1000V （10V檔） z大5m焦耳 | 500V～5000V （100V檔） z大0.12焦耳 | 1000V～10000V （100V檔） z大0.5焦耳 | |
| 測試電感范圍 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
| 采樣?速度 / 內存 | 8bit／10nano-sec.（100MHz） / 8192-Byte | |||
| 采樣?范圍 （WIDTH） | -4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5 10個范圍（0 DW系列互換） | |||
| 測試輸入回路 | 電阻分壓（5MΩ） | |||
| 畫面顯示，波形顯示范圍 | 640×480（VGA），8.4寸彩色液晶，4色表示 512×256 | |||
| 判定方法 | 和標準波形比較 根據波形面積，波形差面積，放電量進行比較判定 線圈絕緣破壞電壓測試功能 | |||
| 標準波形 儲存容量 | 主機擴張 | 196種（14種／14頁） Compact Flash Memory700中（14種／50頁） | ||
| 外部接口 | 并行口I／O（Start，Reset，OK，NG，Busy，Master等） RS-232C（測試控制 測試數據） 打印機板（畫面硬拷貝等） EtherNet適配器（可選） | |||
| 附件 | 測試電纜線1.5M 1根，電源線1根（付3P轉換頭） Compact Flash Memory 1個，并行口I／O連接器1個 使用說明書?測試成績書 1份 | |||
| 使用條件 | 0℃～40℃ 電源電壓：100V～240V±10％（出廠時工廠設定） | |||
| 外形尺寸 （不含Carry Handle） ?重量 | 345(W)×185(H)×370(D) 約10Kg | 345(W)×325(H)×370(D) | ||
