量化材料表面處理的細微差別-發射率測量儀TSS-5X-3

量化材料表面處理的細微差別-發射率測量儀TSS-5X-3

使(shi)用發(fa)射率計 TSS-5X-3，您可(ke)以輕松測量室溫下樣品的發(fa)射率。發(fa)射率值以數字(zi)方式顯示，方便查看，操(cao)作簡單。






量化材(cai)料(liao)表面處理的細微差(cha)別(bie)

TSS-5X-3 可讓您輕松測量室溫下的發射率。
樣品的發射率以數字方式顯示，方便查看，操作方便。


它被(bei)應用于從研發(fa)到(dao)大規模(mo)生產線的廣(guang)泛領(ling)域，包(bao)括空間、半導體和核電。

 

TSS-5X-2 已更新為 TSS-5X-3。

■更新要點

① 更換交流電源入口
供電區域重新設計，改為通用交流電源入口。
現在可以更換電源線以適應不同的國家/地區。
除此之外，電源開關和保險絲盒也集成在一起。
外觀更加干凈，可用性也得到了提高。

 

②您可以根據您的目的地選擇電源線，
請從下表中指適合您所在國家/地區的電源線。
*價格不會根據電纜類型而變化。

產品(pin)特點(dian)

• 量化材料表面(mian)處(chu)理的細微差(cha)別(bie)

  通過(guo)了(le)解(jie)發射(she)(she)率，您可以提高加熱設(she)備的輻射(she)(she)效(xiao)率，設(she)計(ji)強(qiang)調散熱和隔(ge)熱的材(cai)料，還可以用于節省能(neng)源。

  TSS-5X-3使(shi)用兩種(zhong)類型的參(can)考件（發射(she)率(lv)(lv)0.06和0.97），其(qi)參(can)考發射(she)率(lv)(lv)是預先(xian)已知的，并(bing)且可以在室(shi)溫下輕松測量，無需加熱樣(yang)品(pin)。

  它被(bei)應用于從研發到(dao)大(da)規(gui)模生產線的廣泛領域(yu)，包(bao)括空間、半導體和核(he)電(dian)。

• 測量原理

  

  紅外線被樣品反射，一部分紅外線通過半球形黑體爐頂部的小孔進入。
  檢測元件以恒定速率檢測該能量。